欢迎访问中国萤石行业门户!【登陆】【免费注册】010-82930964 微博 微信     粉享通 | 广告服务 | 中国粉体网
萤石网首页 > 技术资料

X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量

编号:FTJS00816

篇名:X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量

作者:杜彩霞; 李韶梅; 张慧娟; 陈剑;

关键词:萤石; 氟化钙; 二氧化硅; X-射线荧光光谱法; 化学法;

机构: 邯郸钢铁集团技术中心;

摘要: 采用四硼酸锂/偏硼酸锂的混合熔剂熔融制样,X-射线荧光光谱法测定萤石中的总钙、二氧化硅含量,通过化学法测定萤石中可溶于弱酸的钙量,从总钙量中减去,得出氟化钙中的钙量,从而求得氟化钙含量。方法的精密度和准确度良好,能满足生产要求。


最新技术资料:
· 一次溶样法连续测定萤石中的硅和磷 2021.04.23
· Fe^3+与水玻璃组合抑制剂对萤石和方解石浮选分离的影响 2021.04.14
· 新型组合抑制剂对萤石浮选的影响 2021.04.14
· NH_(4)^(+),F^(-)对萤石浮选的影响机理及红外光谱分析 2021.04.14
· 一次溶样法连续测定萤石中的硅和磷 2021.04.14
· 酸化水玻璃在萤石精选降硅中的影响研究 2021.04.14
图片新闻

上周国内萤石市场价格走势下滑(5.31-

5月国内萤石市场价格走势小幅下滑

遏制芯片产业的致命气体,日本缘何垄断全球

新石器时代, 这10种非金属矿产资源将会

最新资讯